Adaptation of the Four Levels of Test Maturity Model Integration with Agile and Risk-Based Test Techniques

Yükleniyor...
Küçük Resim

Tarih

Dergi Başlığı

Dergi ISSN

Cilt Başlığı

Yayıncı

MDPI

Erişim Hakkı

info:eu-repo/semantics/openAccess

DOI

10.3390/electronics11131985

Özet

Açıklama

Kaynak

ELECTRONICS

WoS Q Değeri

Scopus Q Değeri

Cilt

11

Sayı

13

Künye

Onay

İnceleme

Ekleyen

Referans Veren

Haklar ve lisanslama

info:eu-repo/semantics/openAccess