Effects of the oxide/interface traps on the electrical characteristics in Al/Yb2O3/SiO2/n-Si/Al MOS capacitors için istatistikler
Toplam ziyaret
| views | |
|---|---|
| Effects of the oxide/interface traps on the electrical characteristics in Al/Yb2O3/SiO2/n-Si/Al MOS capacitors | 0 |
Aylık toplam ziyaret
| views | |
|---|---|
| Ocak 2024 | 0 |
| Şubat 2024 | 0 |
| Mart 2024 | 0 |
| Nisan 2024 | 0 |
| Mayıs 2024 | 0 |
| Haziran 2024 | 0 |
| Temmuz 2024 | 0 |
