Effects of the oxide/interface traps on the electrical characteristics in Al/Yb2O3/SiO2/n-Si/Al MOS capacitors için istatistikler
Toplam ziyaret
| views | |
|---|---|
| Effects of the oxide/interface traps on the electrical characteristics in Al/Yb2O3/SiO2/n-Si/Al MOS capacitors | 0 |
Aylık toplam ziyaret
| views | |
|---|---|
| Haziran 2024 | 0 |
| Temmuz 2024 | 0 |
| Ağustos 2024 | 0 |
| Eylül 2024 | 0 |
| Ekim 2024 | 0 |
| Kasım 2024 | 0 |
| Aralık 2024 | 0 |
